Rastrovací elektronový mikroskop MAGELLAN 400 se subnanometrovým rozlišením – nástroj pro analýzu nanomateriálů a nanostruktur

Je vhodný pro pozorování jemných struktur, jako jsou multivrstvé povlaky a nanočástice produkované nanotechnologiemi. Dále umožňuje pozorovat vzorky pro transmisní elektronovou mikroskopii a nevodivé vzorky.

Hlavní přednosti:

• Rozlišení pod 1 nm v rozsahu primárních napětí 1 kV – 30 kV
• Tubus s UC technologií – minimalizuje vliv chromatické vady
• Zvýšení čistoty povrchu vzorků pomocí integrovaného plazmatického čištění a kryokondenzačních prvků
• Zobrazuje zároveň prošlé (STEM detektor) i odražené elektrony (SE, BSE detektory)
• Upraven pro detekci pomalých elektronů, rozlišení 1,5 nm na energii 200 eV
• Analýza prvkového složení vzorku (EDX), jeho krystalografické orientace (EBSD) a obrazu katodoluminiscence (CL)
• Příprava a pozorování vzorků za teplot kapalného dusíku (kryo-SEM)

Fotografie mikroskopu

Ukázkové snímky z mikroskopu